Infrarot-Thermografie [ PDF 0,74 MB ]

FRAUNHOFER-INSTITUT FÜR KERAMISCHE TECHNOLOGIEN UND SYSTEME IKTS
1
1 Integrierter Heizer auf AlN-
2
INFRAROT-THERMOGRAPHIE
Substrat.
2 Heizerlayout auf einem Substrat aus Si3N4-Keramik (Beispiel
Motivation
- Die schnelle Vario-Therm im nahen IR (3,4
bis 5 μm) mit max. 50 Bilder/s und 25 μm
Bügeleisensohle).
3 Temperaturverteilung auf
Die Temperaturverteilung gehört zu den
einer Bügeleisensohle (Gleitseite
wesentlichsten Parametern bei der Kon-
und Heizerseite).
struktion von Heizermodulen und Baugrup-
Ortsauflösung
- Der Temperaturbereich umfasst 40 °C bis
1200 °C
pen. Auch die zeitliche Analyse z.B. bei
Aufheizvorgängen, Heizimpulsen oder
chemischen Reaktionen ist bei vielen An-
Leistungsangebot
wendungen bedeutsam. Oft kann die
Thermographie zur Lokalisierung von kri-
Temperaturverteilung an Heizersystemen
pen eingesetzt werden, wobei auch kleinste
und elektronischen Baugruppen bei un-
Überhitzungen detektiert werden können.
terschiedlicher elektrischer und thermi-
Fraunhofer-Institut für Keramische
scher Belastung
Technologien und Systeme IKTS
- Belastungstests an Heizermodulen und
Ausrüstung
Winterbergstraße 28
01277 Dresden
Widerstandsschichten unter variablen
Lastbedingungen wie konstante, stufen-
Es stehen zwei Systeme der Firma JENOPTIK
weise ansteigende oder impulsförmige
Jena zur Verfügung:
Heizung
Ansprechpartner
- Das scannende hochauflösende (0,03 K)
Dr. Lars Rebenklau
Thermographiesystem Vario-Scan im fer-
Telefon 0351 2553-7986
nen IR (8 bis 12 μm) mit max. 1 Bild/s
[email protected]
oder 200 Linien/s
www.ikts.fraunhofer.de
- Analyse der statischen und dynamischen
tischen Stellen oder Defekten in Baugrup-
FRAUNHOFER INSTITUTE FOR CERAMIC TECHNOLOGIES AND SYSTEMS IKTS
3
1 Integrated heater on AlN
INFRARED THERMOGRAPHY
substrate.
2 Layout of a heater pattern on
Si3N4 ceramic substrate, for exam-
Motivation
- The fast focal plane array Vario-Therm in
the near IR range (3.4 to 5 μm) with
ple: bottom of a flat iron.
3 Picture of the distribution of
The distribution of temperature belongs to
temperature on Si3N4 bottom of a
the most important parameters of design-
flat iron (sliding side and heater
ing of heating modules and devices. In
side).
many applications the time depended ana-
maximum 50 frames/s and position resolution of 25 μm
- The temperature range extends from
40 °C to 1200 °C
lyzing of temperature is important, for instance during heating and impulse heating
or for controlling chemical processes. Fur-
Services offered
thermore the thermography is suitable to
detect and localize critical or defected
points in devices which are caused even
bution of temperature on heating mod-
from little overheating.
ules and electronic devices underlying
Fraunhofer Institute for Ceramic
various electrical and thermal loads
Technologies and Systems IKTS
- Performing load tests on heating devices
Equipment
Winterbergstrasse 28
01277 Dresden, Germany
and film resistor patterns with different
load conditions which can be constant,
Following infrared camera systems (produced by JENOPTIK Jena) are available:
Contact
- The scanning high resolution (up to
Dr. Lars Rebenklau
0.03 K) IR system Vario-Scan in the far IR
Phone 0351 2553-7986
range (8 to 12 μm) with a maximum
[email protected]
recording rate of 1 frame/s or 200 lines/s
www.ikts.fraunhofer.de
- Analyzing of the static or transient distri-
stepwise increasing, or pulselike heating